NanoBrook Particle Solutions 軟件 v4

  • NanoBrook 顆粒解決方案軟件 v4 用于納米顆粒醒悟、蛋白質(zhì)和聚合物的粒度測量-美國布魯克海文儀器公司（Brookhaven）

Particle Solutions 軟件與 NanoBrook 系列粒度與 Zeta 電位分析儀配套使用進行部署，現(xiàn)已更新為全新的直觀用戶界面并增添了一些高級功能，助力用戶充分發(fā)揮測量潛能新模式。?

高級功能包括用戶可進行獨特的自定義相關(guān)器設(shè)置重要作用，從而完全控制動態(tài)光散射自相關(guān)函數(shù)的采集，并改進數(shù)據(jù)質(zhì)量算法品質，為終端用戶提供改進測量的專業(yè)建議提供了遵循。

功能一覽
  • 高級相關(guān)器控制
  • 兼容 Windows? 平板電腦和觸摸屏
  • 提供測量問題的屏幕指導(dǎo)
  • 經(jīng)過優(yōu)化的除塵算法
  • 支持 NNLS 和 Contin 算法的多峰分析

 

了解 Particle Solutions v4 中全新可自定義的相關(guān)器設(shè)置

概述

NanoBrook 的性能在很大程度上取決于儀器控制軟件 Particle Solutions 以及布魯克海文儀器公司專用的高速信號處理硬件解決問題，尤其是其 TurboCorr 相關(guān)器服務效率。動態(tài)光散射、電泳光散射導向作用、相位分析光散射以及其他所有光散射衍生方法均涉及使用激光照射樣品蓬勃發展，然后在三個散射角之一進行測量（電泳光散射和相位分析光散射總是使用前向散射角進行測量）作用。使用基于雪崩光電二極管（APD）的單光子計數(shù)模塊從前向、側(cè)向和背向散射方向采集散射光信號問題。動態(tài)光散射時間序列數(shù)據(jù)由相關(guān)器進行實時處理應用的選擇，然后發(fā)送到 Particle Solutions 進行擬合。作為光散射領(lǐng)域的先驅(qū)之一深入闡釋，布魯克海文儀器公司在數(shù)字相關(guān)器的開發(fā)方面有著悠久的歷史集聚。我們當(dāng)前的相關(guān)器提供 510 個硬件通道，并在整個延時范圍內(nèi)進行 100% 有效的實時操作大大提高。Particle Solutions 是一款與 Windows 系統(tǒng)兼容的軟件新的動力，用于處理數(shù)據(jù)以便進行查看分析。Particle Solutions v4.0 是我們強大的儀器控制軟件的最新版本調整推進。?

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Particle Solutions v4.0 基于我們的核心技術(shù)為產業發展，整合了五種不同的標(biāo)準測量類型：動態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）指導、相位分析光散射（PALS）可以使用、微流變（μRhe）、尺寸排阻色譜（ASEC）以及德拜圖（DBY）關註點，并將這些功能集成在一個應(yīng)用程序中廣泛認同。此版本在原有基礎(chǔ)上進行了升級，提供高級相關(guān)器控制建強保護、改進了測量問題指導(dǎo)服務好、提升了與 Windows 操作系統(tǒng)的兼容性，以及支持 Windows 平板電腦和觸摸屏設(shè)備流動性，并改進了用戶界面效高化，便于用戶輕松導(dǎo)航至常用操作。?

 

查看您所需的數(shù)據(jù)?

數(shù)據(jù)網(wǎng)格可完全自定義反應能力，并包含多種不同的標(biāo)準顯示選項部署安排。新的列布局可以保存為預(yù)設(shè)，方便隨時調(diào)用投入力度。提供廣泛的列選項效果，包括光強、直徑技術、多分散指數(shù)以及許多其他選項改善。

Particle Solutions v4.0 允許導(dǎo)入老版 Particle Solutions 以及某些特定舊款產(chǎn)品的數(shù)據(jù)，導(dǎo)入的數(shù)據(jù)可以添加自定義標(biāo)簽結構重塑，便于輕松調(diào)用推廣開來。軟件提供篩選選項，可按日期、列或標(biāo)簽對數(shù)據(jù)進行排序取得顯著成效，自定義的篩選條件也可以保存為預(yù)設(shè)處理方法。

 

 

可自定義的相關(guān)器設(shè)置?

Particle Solutions V4.0 具有其他動態(tài)光散射儀器所不具備的獨特功能，即能夠自定義相關(guān)器設(shè)置責任。

對于那些由于粒徑較大建立和完善，或者樣品制備過程中所使用稀釋劑的粘度較高，從而導(dǎo)致粒子遷移率極低增多、衰減速率極慢的樣品來說，修改通道間隔、通道數(shù)量以及起始和終止延遲時間的功能尤為實用估算。

 

 

 

 

 

 

測量結(jié)果查看的靈活性?

多峰分布和對數(shù)正態(tài)分布都可以通過光強加權(quán)、體積加權(quán)達到、表面積加權(quán)或數(shù)量加權(quán)的方式來查看深入各系統。

“原始數(shù)據(jù)” 視圖會顯示歸一化的自相關(guān)函數(shù)，以及光強隨時間變化的記錄的可能性。此視圖還顯示基線指數(shù)和數(shù)據(jù)保留率進一步推進。基線指數(shù)有助于評估數(shù)據(jù)質(zhì)量系列，而數(shù)據(jù)保留率可用于推斷除塵算法的有效性明確相關要求。被灰塵過濾器剔除的數(shù)據(jù)點會在光強變化記錄圖中標(biāo)識出來。

有效粒徑和多分散指數(shù)（PDI）會與所使用的測量選項一同顯示方案，同時還會顯示用于追蹤的用戶標(biāo)簽或樣品名稱等信息特點。

 

 

 

 

在需要時提供幫助

Particle Solutions v4.0 集成了強大的算法，能夠評估實驗數(shù)據(jù)中可能導(dǎo)致錯誤解讀的異常情況統籌發展。

選中一個測量組品質，然后選擇主屏幕上的“數(shù)據(jù)質(zhì)量信息”圖標(biāo)，即可獲取與該測量相關(guān)的信息以及改進建議慢體驗。

 

 

 

 

 

Zeta 電位測量（相位分析光散射和電泳光散射）?

NanoBrook 儀器可使用電泳光散射（ELS）和相位分析光散射（PALS）進行 Zeta 電位測量深化涉外。

基于相位調(diào)制的 PALS 方法，其靈敏度比基于激光多普勒電泳的標(biāo)準 ELS 方法高出幾個數(shù)量級左右。

由于相位分析光散射的高靈敏度又進了一步，使其能夠測量電泳遷移率極低的顆粒，并且對于諸如磷酸鹽緩沖溶液（PBS）這類具有較高電導(dǎo)率溶液中的粒子創新科技，能夠使用更低的外加電壓進行測量更默契了。?

 

 

 

 

 

功能強大的自動滴定

Particle Solutions v4.0 與布魯克海文儀器公司的 BI-ZTU 自動滴定儀兼容。在進行確定 pH 值影響或估算等電點的研究時服務機製，BI-ZTU 非常有用要求。該滴定儀還可用于添加劑滴定，例如利用 Zeta 電位來確定混凝劑或絮凝劑的最佳投加量。

該軟件允許輸入最多四種濃度的酸/堿或其他添加劑（通過精密控制的加藥泵滴加）運行好。添加劑添加方法支持線性加藥或幾何級數(shù)加藥充分發揮。

 

技術(shù)規(guī)格

支持的儀器：

  • NanoBrook Omni?
  • NanoBrook 173Plus?
  • NanoBrook 173?
  • NanoBrook 90Plus PALS?
  • NanoBrook 90Plus Zeta?
  • NanoBrook 90Plus?
  • NanoBrook ZetaPALS?
  • NanoBrook ZetaPlus?

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注意：由于軟件框架進行了重大更新，并非所有儀器都與 Particle Solutions v4.0 兼容適應性。請聯(lián)系我們優勢，確認您的儀器是否兼容，并了解可行的方案鍛造。?

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推薦硬件要求：?

以下是運行 Particle Solutions v4.0 的推薦最低要求新體系。如果系統(tǒng)的技術(shù)規(guī)格低于最低要求，可能會影響軟件的使用體驗共謀發展。

 

操作系統(tǒng)?Windows 10 專業(yè)版搖籃、Windows 11 專業(yè)版以及 Windows 10 企業(yè)版。*?

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*可能需要額外的設(shè)置/配置創造。?

CPU?雙核或更高配置?
RAM?4 GB 或以上?
連接方式?NanoBrook 儀器配備一個 USB Type-B 端口使用，并隨附一根 USB Type-A 轉(zhuǎn) Type-B 的數(shù)據(jù)線，用于連接計算機。如果使用 USB Type-C 設(shè)備不難發現，則需要用戶自行提供適配器。?

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用領(lǐng)域包括：

 

動態(tài)光散射（DLS）——一種將布朗運動與有效粒徑聯(lián)系起來的方法聽得懂。在這種情況下推動，溫度受到控制，顆粒因熱運動而自由移動設備製造，然后分析這種快速運動基本情況，得出等效流體動力學(xué)直徑。電泳光散射（ELS）—— 激光多普勒電泳技術(shù)用于根據(jù)粒子在施加直流電場后速度的變化來測量膠體的 Zeta 電位重要的。此方法非常適用于傳統(tǒng)的膠體顆粒充分發揮，尤其是那些表面電荷較高，且分散在低電導(dǎo)率水相體系中的顆粒高端化。

 

相位分析光散射（PALS）——與電泳光散射類似全面展示，相位分析光散射測量顆粒在電場作用下的運動，但與電泳光散射不同的是充分發揮，相位分析光散射使用交流電場服務。然后對解調(diào)后的相位數(shù)據(jù)進行分析，得出遷移率智能設備，進而轉(zhuǎn)換為 Zeta 電位解決問題。這種方法能夠檢測到極低的電泳遷移率，因此適用于多種特殊情況不要畏懼，包括表面電荷極低的顆粒導向作用、分散在非水溶劑中且表面電荷低或無表面電荷的樣品蓬勃發展，以及分散在電導(dǎo)率異常高的介質(zhì)中的樣品。

 

尺寸排阻色譜（ASEC）——當(dāng) NanoBrook 儀器與專用流通池配合使用時重要意義，可得到隨時間變化的 DLS 數(shù)據(jù)問題。如果將流通池連接到凝膠滲透色譜（GPC）系統(tǒng)上，所得數(shù)據(jù)可用于生成實時色譜圖效率。

 

動態(tài)光散射微流變（μRhe）——可以獲得各種流體的流變學(xué)信息（彈性模量—G’、黏性模量–G’’和復(fù)數(shù)黏度??*）。與溶劑粘度已知而粒度未知的標(biāo)準動態(tài)光散射測量相比十大行動，動態(tài)光散射微流變學(xué)需要使用已知粒度的非相互作用示蹤粒子重要性，然后用這些粒子來測量未知粘度流體的流變學(xué)屬性。

 

表面 Zeta 電位（SZP）——使用帶有可調(diào)平臺的專用樣品池來估算固體基底和薄膜的表面電位體系。這需要將樣品固定在 SZP 裝置的樣品基座上緊密相關，同時將整個組件浸入含有已知 Zeta 電位示蹤粒子的溶液中。然后根據(jù)示蹤粒子接近固體基質(zhì)時其 Zeta 電位的擾動來推斷表面電位平臺建設。

 

德拜圖（DBY）——德拜圖法使用 90 度散射角進行單角度靜態(tài)光散射測量。它可用于測量未知樣品的絕對重量分子量（Mw）服務延伸。這涉及到對濃度的外推先進技術，通常需要一系列不同濃度的未知樣品。德拜近似法對于小顆粒（回旋半徑 Rg 較胸暙I力量。┑男Ч芎煤献?。

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