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Omni（新產(chǎn)品）

納米粒度分析儀

173Plus多角度粒度測試儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

等電點(diǎn)測試儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

納米粒度及zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數(shù)測定儀

BI-ZTU自動滴定儀

動靜態(tài)激光光散射儀

廣角動靜態(tài)激光光散射儀

分子量檢測器

BI-MwA多角度激光散射儀

粘度/示差檢測器

　

　

· 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

產(chǎn)品簡介： 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器橋梁作用，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)問題分析，比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高約1000倍競爭激烈！詳細(xì)說明： NanoBrook產(chǎn)品系列項(xiàng)目

更新時間: 2025-02-27

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