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設(shè)為主頁

　

Omni（新產(chǎn)品）

納米粒度分析儀

173Plus多角度粒度測試儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

等電點測試儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

納米粒度及zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數(shù)測定儀

BI-ZTU自動滴定儀

動靜態(tài)激光光散射儀

廣角動靜態(tài)激光光散射儀

分子量檢測器

BI-MwA多角度激光散射儀

粘度/示差檢測器

　

　

· Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產(chǎn)品簡介： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)薄弱點，擁有15°、90°與173°三個散射角度培訓，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性表現明顯更佳，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量更加廣闊，是一

更新時間: 2025-04-08

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· 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

產(chǎn)品簡介： 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)技術先進，比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高約1000倍示範！詳細(xì)說明： NanoBrook產(chǎn)品系列項目

更新時間: 2025-02-27

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· Zeta電位及粒度分析儀

簡單介紹： ZetaPlus是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器提高，其獨特的開放式樣品槽設(shè)計與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合發展基礎，使其具有優(yōu)異的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況有很大提升空間。它的革新之處是消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響要求，從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。詳細(xì)說明： NanoBrook產(chǎn)品系列項目

更新時間: 2025-04-08

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