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Omni（新產(chǎn)品）

納米粒度分析儀

173Plus多角度粒度測試儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

等電點(diǎn)測試儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

納米粒度及zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數(shù)測定儀

BI-ZTU自動滴定儀

動靜態(tài)激光光散射儀

廣角動靜態(tài)激光光散射儀

分子量檢測器

BI-MwA多角度激光散射儀

粘度/示差檢測器

　

　

· 高靈敏度Zeta電位儀

高靈敏度Zeta電位儀產(chǎn)品簡介： ZetaPALS是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering特點，相位分析光散射）技術(shù)，比其它測量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高約1000倍進一步完善！詳細(xì)說明： NanoBrook產(chǎn)品系列項目 90Plus

更新時間: 2025-04-08

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