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Omni（新產(chǎn)品）

納米粒度分析儀

173Plus多角度粒度測試儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

等電點(diǎn)測試儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

納米粒度及zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數(shù)測定儀

BI-ZTU自動(dòng)滴定儀

動(dòng)靜態(tài)激光光散射儀

廣角動(dòng)靜態(tài)激光光散射儀

分子量檢測器

BI-MwA多角度激光散射儀

粘度/示差檢測器

　

　

· Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產(chǎn)品簡介： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)深度，擁有15°助力各行、90°與173°三個(gè)散射角度經過，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性帶來全新智能，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是一

更新時(shí)間: 2025-04-08

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