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Omni（新產品）

納米粒度分析儀

173Plus多角度粒度測試儀

90Plus納米/亞微米激光粒度儀

等電點測試儀

BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀

Zeta電位測量

納米粒度及zeta電位儀

ZetaPlus型Zeta電位儀

BI-870介電常數測定儀

BI-ZTU自動滴定儀

動靜態(tài)激光光散射儀

廣角動靜態(tài)激光光散射儀

分子量檢測器

BI-MwA多角度激光散射儀

粘度/示差檢測器

　

　

· 多角度粒度測試儀

簡單介紹: 173Plus多角度粒度測試儀結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術，擁有15°設計能力、90°與173°三個散射角度更合理，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中適應性，即可以同時兼顧大顯著、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限更優美，是一款功能強大的粒度分析儀需求。詳細說明： Brookhaven公司應用光纖技術將背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術

更新時間: 2025-04-08

　

　

　

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